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APQ Fluorite Quadruplet Polychromat
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APQ Wiki – ऑप्टिक्स और टेलीस्कोप तकनीक

APQ Wiki – ऑप्टिक्स और टेलीस्कोप तकनीक

APQ Wiki तकनीकी और खगोलीय प्रकाशिकी के प्रमुख शब्दों की व्याख्या करता है और संबंधित विषयों को सीधे जोड़ता है। इस संस्करण में 175 शब्द हैं। संक्षिप्त परिभाषाओं के साथ जहाँ तकनीकी रूप से उपयोगी हो वहाँ सूत्र, योजनात्मक चित्र, cross-references और साहित्य स्रोत दिए गए हैं। विस्तृत दायरे में अब precision-optics manufacturing, optical testing, optomechanics, optical-system synthesis और optics–detector interaction भी शामिल हैं।

शब्दावली: किसी objective के optical elements की संख्या को Doublet, Triplet, Quadruplet और Multiplet जैसे संरचनात्मक शब्दों से वर्णित किया जाता है। ये Dichromat, Trichromat, Apochromat, Polychromat और Superachromat जैसी chromatic correction classes से अलग हैं। Calcium fluoride को CaF₂ लिखा जाता है।

सूत्र और योजनात्मक चित्र किसी शब्द को संदर्भ में रखने के लिए हैं; वे पूर्ण specification या system analysis का विकल्प नहीं हैं। विशेष रूप से Strehl, MTF, spot diagrams, chromatic correction और tolerancing के लिए wavelengths, field points, focus conditions, spectral weighting और test conditions देना आवश्यक है।

A–Z:  A  |  B  |  C  |  D  |  E  |  F  |  G  |  H  |  I  |  K  |  L  |  M  |  N  |  O  |  P  |  Q  |  R  |  S  |  T  |  U  |  V  |  W  |  Z  |  साहित्य और आगे पढ़ने के स्रोत

A

एबे आरेख
ऑप्टिकल ग्लासों को उनकी एबे संख्या और सामान्यतः अपवर्तनांक या सापेक्ष आंशिक प्रसरण के आधार पर ग्राफिक रूप से दर्शाने का तरीका। विस्तृत ग्लास-मैप सामान्य dispersion line से विचलन भी दिखाते हैं और इसलिए chromatic correction के लिए सामग्री चयन में सहायक होते हैं।
एबे संख्या νd सापेक्ष आंशिक प्रसरण Px,y असामान्य स्थिति योजनात्मक – कोई विशिष्ट glass map नहीं
योजनात्मक: dispersion representation में glasses की positions; anomalous materials normal glass line से हट सकती हैं।
साहित्य: [H81], [KJ10], [Sch17]
एबे संख्या
एबे संख्या (Abbe constant या constringence) किसी transparent optical material की dispersion को दर्शाती है। इसे Greek अक्षर ν से लिखा जाता है; d-line definition के लिए सामान्यतः νd और e-line definition के लिए νe उपयोग होता है। Comparable refractive index पर बड़ी Abbe संख्या सामान्यतः visible range में कम chromatic dispersion दर्शाती है। यह भी देखें: डिस्पर्शन
सूत्र:νd = (nd − 1) / (nF − nC)νe = (ne − 1) / (nF′ − nC′)
साहित्य: [H81], [KJ10]
एबे साइन शर्त
सीमित aperture पर axial object point की coma-मुक्त imaging की शर्त। यह object और image side पर ray height, refractive index और ray angle को जोड़ती है तथा aplanatism का एक मुख्य criterion है। यह भी देखें: एप्लानैट / एप्लानैटिज़्म
सूत्र:  n y sin u = n′ y′ sin u′
साहित्य: [H81], [KJ10]
एबरेशन
वास्तविक इमेज के आदर्श ज्यामितीय या विवर्तन-सीमित इमेज से विचलन का सामान्य नाम। प्रमुख रूपों में स्फेरिकल एबरेशन, कोमा, एस्टिग्मैटिज़्म, फील्ड कर्वेचर, डिस्टॉर्शन और वर्णीय त्रुटियाँ शामिल हैं।
साहित्य: [H86], [WS08]
अवशोषण
Incident optical radiant power के एक भाग का material के भीतर अन्य energy forms में रूपांतरण। Reflectance और transmission के साथ मिलकर यह optical system की spectral losses निर्धारित करता है। यह भी देखें: परावर्तनशीलता / Reflectance, ट्रांसमिशन
सूत्र:  A(λ) = 1 − R(λ) − T(λ)
साहित्य: [R90], [H81]
अक्रोमैट
ऐसा optical system जिसमें चुनी गई दो wavelengths का समान paraxial focus हो। Achromat primary chromatic aberration को कम करता है, लेकिन secondary spectrum शेष रहता है। यह शब्द correction class बताता है, lenses की संख्या नहीं। यह भी देखें: वर्णीय त्रुटि, सेकेंडरी स्पेक्ट्रम
साहित्य: [H81], [H86], [RV88]
एक्टिव ऑप्टिक्स
Gravity, temperature और mechanical loads से उत्पन्न quasi-static errors की भरपाई के लिए बड़े optical components की shape या position का अपेक्षाकृत धीमा नियंत्रण। इसे तेज adaptive optics से अलग समझना चाहिए।
साहित्य: [R90], [S00]
एडेप्टिव ऑप्टिक्स
Wavefront sensor, controller और deformable optical element की सहायता से time-varying wavefront errors का तेज, सामान्यतः closed-loop correction। Astronomy में इसका मुख्य उपयोग atmospheric turbulence की compensation है। यह भी देखें: वेवफ्रंट त्रुटि
साहित्य: [R90], [S00]
एयर गैप
दो optical surfaces के बीच defined axial spacing जो air या अन्य gas से भरा हो। Air gaps independent design parameters हैं और aberrations, thermal behavior, reflection losses तथा assembly tolerances को प्रभावित करते हैं।
साहित्य: [L17], [Y08]
एयरी डिस्क
आदर्श वृत्ताकार अपर्चर के विवर्तन पैटर्न का केंद्रीय चमकीला भाग। इसका आकार तरंगदैर्घ्य और फोकल रेशियो से निर्धारित होता है और विवर्तन-सीमित इमेजिंग के लिए मूल पैमाना प्रदान करता है।
सूत्र:  r1 = 1.22 λ N   (image plane में first minimum तक radius)
साहित्य: [BW99], [S00]
एनास्टिग्मैट
ऐसा optical system जिसमें intended image field पर astigmatism काफी हद तक corrected हो। Photographic और scientific anastigmats में coma और field curvature जैसी अन्य field aberrations भी सामान्यतः कम की जाती हैं; इसलिए यह नाम field size, spectral range और image-quality criterion के साथ ही सार्थक है। यह भी देखें: एस्टिग्मैटिज़्म, फील्ड कर्वेचर
साहित्य: [H81], [H86], [KJ10]
असामान्य आंशिक प्रसरण
किसी material की relative partial dispersion का conventional optical glasses के normal dispersion relation से विचलन। Fluorophosphate glasses और crystalline CaF₂ जैसी materials secondary spectrum correction के लिए अतिरिक्त degrees of freedom देती हैं। यह भी देखें: आंशिक प्रसरण, फ्लोराइट (CaF₂)
साहित्य: [H81], [KJ10]
एंटी-रिफ्लेक्शन कोटिंग
ऑप्टिकल सतहों पर पतली परतों की व्यवस्था जो Fresnel प्रतिबिंब घटाकर ट्रांसमिशन और कॉन्ट्रास्ट बढ़ाती है। ब्रॉडबैंड मल्टीलेयर कोटिंग को अपेक्षित स्पेक्ट्रल रेंज और सब्सट्रेट के अनुरूप बनाया जाता है।
साहित्य: [H81], [WS08]
अपर्चर स्टॉप
वह stop जो axial ray bundle का angular extent और इस प्रकार system की effective aperture निर्धारित करता है। Object space में इसका image entrance pupil तथा image space में exit pupil होता है। यह भी देखें: प्रवेश पुतली, निर्गम पुतली
aperture stop field stop marginal rays chief ray
योजनात्मक: aperture stop और field stop ray bundle के अलग भागों को limit करते हैं; chief और marginal rays description के लिए उपयोग होते हैं।
साहित्य: [H81], [KJ10]
एप्लानैट / एप्लानैटिज़्म
Aplanatism किसी निर्धारित object और image point के लिए spherical aberration और coma के simultaneous correction को दर्शाता है। उपयुक्त conditions में an aplanatic system Abbe sine condition पूरी करता है। यह भी देखें: स्फेरिकल एबरेशन, कोमा, एबे साइन शर्त
साहित्य: [H81], [H86], [KJ10]
अपोक्रोमैट
ऐसा ऑप्टिकल सिस्टम जिसकी वर्णीय सुधार क्षमता एक अक्रोमैट से काफी आगे होती है। पारंपरिक Abbe परिभाषा में तीन तरंगदैर्घ्य एक साझा अक्षीय फोकस पर लाए जाते हैं और दो दूरस्थ तरंगदैर्घ्यों पर स्फेरोक्रोमैटिज़्म (गाउस त्रुटि) सुधारा जाता है। खगोलीय उपयोग में “APO” कभी-कभी व्यापक अर्थ में प्रयुक्त होता है; वास्तविक पोलिक्रोमैटिक इमेज गुणवत्ता निर्णायक है।
साहित्य: [H81], [H86], [S00]
कृत्रिम तारा
Telescope optics की testing, alignment और evaluation के लिए artificial point source। Finite distance पर source exactly parallel incident rays नहीं देता, इसलिए source diameter, distance और जहाँ आवश्यक हो collimator geometry को उचित रूप से चुनना और document करना चाहिए।
सूत्र:  α ≈ d / L
APQ संदर्भ: विश्वसनीय test results के लिए source diameter d, distance L और यदि उपयोग हो तो collimator को document करना चाहिए।
point sourcetest optic / collimatorimage
योजनात्मक: छोटी point source को finite distance पर सीधे या collimator के माध्यम से artificial star की तरह उपयोग किया जा सकता है।
साहित्य: [Su08], [M07]
एस्फीयर
ऐसी ऑप्टिकल सतह जो गोले या समतल से भिन्न हो। एस्फीयर कम तत्वों या स्वतंत्रताओं से चुनिंदा एबरेशन सुधार सकते हैं, लेकिन निर्माण और मेट्रोलॉजी की माँग बढ़ती है।
साहित्य: [KJ10], [M07]
एस्टिग्मैटिज़्म
ऑफ-अक्ष एबरेशन जिसमें sagittal और tangential किरण-पुंज अलग फोकस स्थितियाँ रखते हैं। इसलिए एक ऑब्जेक्ट पॉइंट एक ही प्लेन में बिंदु के रूप में नहीं बनता।
साहित्य: [H86], [WS08]
एथर्मलाइज़ेशन
ऐसी optomechanical design जिसमें temperature से होने वाले refractive-index, length और spacing changes की compensation की जाती है ताकि कोई critical system quantity—अक्सर focus position—specified temperature range में यथासंभव constant रहे। dn/dT, thermal expansion और mount को साथ में consider किया जाता है। यह भी देखें: थर्मल एक्सपैंशन कोएफ़िशिएंट (CTE)
सूत्र:  d(BFL) / dT ≈ 0
APQ संदर्भ: APQ में बड़े objectives और उनकी mounts की mechanical compensation, athermalization से निकटता से जुड़ी है।
तापमान T focus position BFL uncompensated athermalized
योजनात्मक: athermalization का लक्ष्य temperature के साथ focus shift को काफी कम करना है।
साहित्य: [Y08], [KJ10]
वायुमंडलीय अपवर्तन
Earth atmosphere में astronomical light का refraction। यह effect object की apparent direction बदलता है और wavelength-dependent है; बड़े zenith distance पर इससे noticeable atmospheric dispersion हो सकती है।
साहित्य: [R90], [S00]
ऑटोकॉलीमेशन
Test या alignment method जिसमें optical system से निकला ray bundle mirror से reflect होकर उसी system में वापस भेजा जाता है। इससे double pass बनता है, जो कुछ angular और imaging errors के प्रति बहुत sensitive होता है।
APQ संदर्भ: Autocollimation, autocollimation telescope और अनेक double-pass test setups का आधार है।
reticle / observation objective plane mirror
योजनात्मक: emitted beam plane mirror से reflect होकर उसी optical channel में लौटता है।
साहित्य: [H81], [M07], [Sch17]
ऑटोकॉलीमेटर / ऑटोकॉलीमेशन टेलीस्कोप (AKF)
Measurement telescope जिसमें collimator और observing telescope एक common optical path में combined होते हैं। Illuminated reticle objective से बाहर project होता है, reflecting surface से लौटता है और फिर observe किया जाता है, जिससे बहुत छोटे angular deviations को precise मापा जा सकता है।
reticle / observation objective plane mirror
योजनात्मक: common transmit और receive path वाले autocollimation telescope का कार्य सिद्धांत।
साहित्य: [H81], [Sch17]

B

बैक फोकस
निर्धारित यांत्रिक कनेक्शन या रेफरेंस प्लेन से अपेक्षित इमेज प्लेन तक उपलब्ध दूरी। फोटोग्राफिक सिस्टम में एडेप्टर, फ़िल्टर, कैमरा और करेक्टर की कुल पथ-लंबाई निर्दिष्ट बैक फोकस से मेल खानी चाहिए।
साहित्य: [WS08]
द्विअपवर्तन
Anisotropic media का वह गुण जिसमें अलग polarization directions के लिए अलग refractive indices होते हैं। इसलिए incident ray ordinary और extraordinary components में विभाजित हो सकती है।
सूत्र:  Δn = ne − no
साहित्य: [G85], [BW99]
ब्लॉकिंग फ़िल्टर
ऐसा ऑप्टिकल फ़िल्टर जो अवांछित स्पेक्ट्रल क्षेत्रों को चुनकर रोकता और इच्छित बैंड को पारित करता है। यह स्पष्ट होना चाहिए कि वह केवल detector range सीमित करता है या सिस्टम की नियोजित spectral design का हिस्सा है।
साहित्य: [H81], [WS08]

C

सेंटरिंग
ऑप्टिकल सतहों और तत्वों का किसी reference axis के सापेक्ष सटीक स्थानिक संरेखण। Decenter और tilt असममित aberrations उत्पन्न कर सकते हैं और उच्च-गुणवत्ता ऑब्जेक्टिव के डिज़ाइन प्रदर्शन को काफी घटा सकते हैं।
साहित्य: [H81], [M07]
सेंटरिंग त्रुटि
Optical surfaces या elements का intended common reference axis से deviation। Decenter और tilt asymmetric aberrations, विशेषकर coma और astigmatism, उत्पन्न कर सकते हैं। इसलिए centering errors manufacturing, assembly और alignment सभी में महत्वपूर्ण हैं।
साहित्य: [Sch17], [H81], [Y08]
केंद्रीय अवरोध
Reflecting telescopes में सामान्यतः secondary mirror और उसके support द्वारा entrance aperture का central blockage। Outer aperture diameter unchanged होने पर भी यह diffraction distribution और इसलिए PSF तथा MTF बदल देता है।
सूत्र:  ε = d/D;   free-area fraction = 1 − ε2
APQ संदर्भ: Refractive APQ objectives में secondary-mirror central obstruction नहीं होता; reflector systems से तुलना में इस अंतर को ध्यान में रखना चाहिए।
D d linear obstruction ε = d/DAfrei/A0 = 1 − ε²
योजनात्मक: outer diameter D के भीतर central obstruction d वाला annular free aperture।
साहित्य: [RV88], [S00]
चीफ रे
Off-axis object point से आने वाली वह ray जो aperture stop के center से गुजरती है। Field position, pupil imaging, telecentricity और vignetting के लिए यह important construction ray है। यह भी देखें: अपर्चर स्टॉप, टेलीसेन्ट्रिसिटी
aperture stop field stop marginal rays chief ray
योजनात्मक: chief ray aperture stop के center से गुजरती है; marginal rays bundle की सीमा बनाती हैं।
साहित्य: [H81], [KJ10]
क्रोमैटिक एबरेशन
ऑप्टिकल पदार्थों की डिस्पर्शन के कारण इमेजिंग का तरंगदैर्घ्य पर निर्भर होना। मुख्य रूप longitudinal chromatic aberration, lateral chromatic aberration और monochromatic aberrations का वर्णीय परिवर्तन हैं।
साहित्य: [H81], [H86], [KJ10]
वर्णीय त्रुटि
वर्णीय इमेज त्रुटियों का सामान्य नाम। इसमें longitudinal color, lateral color और monochromatic aberrations का तरंगदैर्घ्य-निर्भर बदलना शामिल है। क्रोमैटिक एबरेशन और स्फेरोक्रोमैटिज़्म (गाउस त्रुटि) भी देखें।
साहित्य: [H81], [H86]
क्रोमैटिक फोकस शिफ्ट
सर्वोत्तम या पैराएक्सियल फोकस की तरंगदैर्घ्य-निर्भर स्थिति। s′(λ) फोकस-वक्र सीधे दिखाता है कि दिए गए स्पेक्ट्रल रेंज में longitudinal chromatic correction कितनी अच्छी है।
सूत्र:  Δs'(λ) = s'(λ) − s'(λref)
focus position s'(λ) principle sketch – APQ measurement curve नहीं
योजनात्मक: पैराएक्सियल फोकस स्थिति की तरंगदैर्घ्य पर निर्भरता।
APQ संदर्भ: ब्रॉडबैंड APQ सिस्टम में केवल कुछ रेफरेंस तरंगदैर्घ्यों का मेल नहीं, बल्कि पूरे कार्य-क्षेत्र में सतत व्यवहार महत्वपूर्ण है।
साहित्य: [H81], [H86]
क्लियर अपर्चर
ऑप्टिकल तत्व या सिस्टम का वास्तव में उपयोग योग्य, यांत्रिक रूप से बिना अवरोध वाला व्यास या क्षेत्र। इसे लेंस ब्लैंक या सेल के नाममात्र आकार से अलग समझना चाहिए।
साहित्य: [H81], [WS08]
थर्मल एक्सपैंशन कोएफ़िशिएंट (CTE)
Temperature change के साथ material की relative length change का parameter। Glass, crystal, mount और tube के different expansion coefficients spacings, clamping forces और focus position को प्रभावित करते हैं और इसलिए athermalization के key input quantities हैं। यह भी देखें: एथर्मलाइज़ेशन
सूत्र:  α = (1/L) · dL/dT
साहित्य: [Y08], [Sch17]
कोहेरेंस / coherence length
Optical waves की stable phase relation बनाए रखने की क्षमता का माप। Temporal coherence spectral bandwidth से संबंधित है और coherence length तय करती है; spatial coherence wavefront के अलग positions के बीच correlation बताती है।
सूत्र:  Lc ≈ λ² / Δλ (narrowband radiation के लिए approximate)
साहित्य: [G85], [BW99]
कॉलिमेशन
ऑप्टिकल तत्वों और अक्षों का ऐसा संरेखण जिससे सिस्टम अपनी नियोजित ज्यामिति प्राप्त करे। रिफ्रैक्टर में इसमें सेंटरिंग, झुकाव और ऑब्जेक्टिव, ट्यूब व इमेज प्लेन की स्थिति शामिल हैं।
साहित्य: [H81], [WS08]
कोलिमेटर
Optical system जो focal plane के पास source से आने वाली light को लगभग parallel beam में बदलता है या reverse function करता है। Collimators optical testing, angular measurement और objects at infinity की simulation में उपयोग होते हैं।
साहित्य: [H81], [Sch17]
कोमा
ऑफ-अक्ष एबरेशन जिसमें बिंदु स्रोत एक असममित, धूमकेतु-जैसा पॉइंट स्प्रेड फ़ंक्शन बनाता है। कोमा प्रमुख monochromatic aberrations में से एक है और सामान्यतः फील्ड एंगल के साथ बढ़ता है।
साहित्य: [H86], [KJ10]
कम्पेन्सेटिंग लेंस सेल
ऐसी यांत्रिक ऑब्जेक्टिव सेल जिसकी संरचना तापमान-जनित लंबाई और व्यास परिवर्तन नियंत्रित करती है, ताकि महत्वपूर्ण सापेक्ष स्थितियाँ और तनाव निर्धारित तापमान सीमा में नियंत्रण में रहें।
APQ संदर्भ: बड़े, ब्रॉडबैंड-सुधारित APQ ऑब्जेक्टिव में थर्मल और मैकेनिकल कम्पेन्सेशन पूरे सिस्टम डिज़ाइन का स्वतंत्र भाग है।
साहित्य: [H81]
कोनिक कॉन्स्टेंट
Conic surface के type और sphere से उसकी curvature departure को describe करने वाला parameter। Vertex curvature के साथ यह ellipsoid, paraboloid और hyperboloid जैसी rotationally symmetric conic surfaces define करता है।
सूत्र:  z(r) = r² / [R · (1 + √(1 − (1+K) r²/R²))]
साहित्य: [L17], [WS08]
कूडे फोकस / Coudé optical path
Telescope optical path जिसमें additional mirrors light को लगभग fixed focus तक ले जाते हैं। High-resolution spectrographs जैसे भारी या sensitive instruments को stationary position पर operate किया जा सकता है।
साहित्य: [R90], [S00]
क्रिस्टल
Long-range ordered atomic structure वाला solid। Optical crystals anisotropic हो सकते हैं और birefringence दिखा सकते हैं; इसलिए crystalline CaF₂ amorphous optical glass से fundamentally अलग है। यह भी देखें: फ्लोराइट (CaF₂)
साहित्य: [H81], [Sch17]
कटऑफ spatial frequency
Ideal diffraction-limited incoherent imaging system द्वारा transferred highest spatial frequency। इसके ऊपर MTF zero हो जाती है, इसलिए cutoff frequency wavelength और f-number पर depend करती है। यह भी देखें: स्पैटियल फ़्रीक्वेंसी
सूत्र:  νc = 1 / (λ N)
साहित्य: [BW99], [WS08]

D

डैम्प्ड लीस्ट स्क्वेयर्स (DLS)
Numerical optimization method जिसमें locally linearized least-squares problem में additional damping के साथ parameter changes निकाले जाते हैं। Damping iteration को stable बनाती है और बहुत बड़े steps सीमित करती है, इसलिए DLS optical design में व्यापक रूप से उपयोग होता है।
सूत्र:  Δp = −(Jᵀ W J + μI)−1 Jᵀ W r
साहित्य: [HR84], [WS08]
डीफोकस
Image plane के optimum focus position से हटने के कारण उत्पन्न axially symmetric wavefront error। Defocus point-spread function को बदलता है और Zernike representations में अलग mode के रूप में दर्शाया जाता है।
साहित्य: [L17], [M07]
फोकस की गहराई / diffraction depth of focus
Nominal image plane के आसपास axial range जिसमें defocus specified image-quality criterion से अधिक नहीं होता। Diffraction-limited system में permissible depth of focus लगभग wavelength λ और f-number N के square के साथ scale करता है।
सूत्र:  Δz ≈ ±2 λ N² (approximation; criterion-dependent)
साहित्य: [L17], [S00]
Dichromat (दो-रंग सुधार)
ऐसा ऑप्टिकल सिस्टम जिसमें चुने गए दो रंगों या तरंगदैर्घ्यों के लिए एक वर्णीय सुधार शर्त पूरी होती है। यह वर्णीय सुधार श्रेणी बताता है, लेंस तत्वों की संख्या नहीं।
साहित्य: [H81], [H86]
विवर्तन
Wave-optical phenomenon जिसमें finite apertures और edges पर light purely geometrical propagation से deviate करती है। Perfect optics में भी diffraction Airy disk का finite size और fundamental diffraction limit निर्धारित करता है। यह भी देखें: एयरी डिस्क, विवर्तन सीमा
सूत्र:  θR ≈ 1.22 λ / D
साहित्य: [BW99], [S00]
विवर्तन सीमा
वह स्थिति जिसमें इमेजिंग प्रदर्शन मुख्यतः प्रकाश की तरंग प्रकृति से निर्धारित होता है, न कि ज्यामितीय एबरेशन से। “विवर्तन-सीमित” कहना अकेले पर्याप्त नहीं; तरंगदैर्घ्य, फील्ड पॉइंट, स्पेक्ट्रल वेटिंग और मापदंड भी बताने चाहिए।
साहित्य: [BW99], [S00]
डिस्पर्शन
ऑप्टिकल पदार्थ के अपवर्तनांक का तरंगदैर्घ्य पर निर्भर बदलना। सामान्य, असामान्य और आंशिक डिस्पर्शन वर्णीय एबरेशन सुधार के महत्वपूर्ण डिज़ाइन साधन हैं।
साहित्य: [H81], [KJ10]
डिस्टॉर्शन
फील्ड के साथ magnification बदलने से सीधी रेखाएँ या ज्यामितीय अनुपात विकृत दिखाई देना। Distortion मुख्यतः geometric position को प्रभावित करता है, local point sharpness को नहीं।
साहित्य: [H86], [KJ10]
dn/dT
Optical material के refractive index का temperature coefficient। यह बताता है कि temperature change के साथ n कितना बदलता है और thermal dimensional change के साथ athermalization का महत्वपूर्ण parameter है। यह भी देखें: अपवर्तनांक, एथर्मलाइज़ेशन
सूत्र:  dn/dT = ∂n / ∂T
साहित्य: [KJ10], [Y08]
डबल-पास ऑटोकॉलीमेशन (DPAC)
Test method जिसमें light tested optical system से दो बार गुजरती है और high-quality plane mirror से reflect होकर source की ओर लौटती है। Double pass कुछ wavefront errors के प्रति single pass से अधिक sensitive होता है; इसलिए setup, reference surface और evaluation method स्पष्ट बताने चाहिए।
APQ संदर्भ: DPAC पूर्ण objectives की qualitative और quantitative testing के लिए विशेष रूप से उपयोगी है, लेकिन actual test geometry का विवरण आवश्यक रहता है।
साहित्य: [M07], [Su08]
Doublet
खगोल विज्ञान में दो ऑप्टिकल तत्वों वाले ऑब्जेक्टिव या लेंस समूह के लिए सामान्य शब्द। “Doublet” केवल तत्वों की संख्या बताता है; किसी विशिष्ट वर्णीय सुधार श्रेणी की गारंटी नहीं देता।
साहित्य: [HR84], [KJ10]

E

ED ग्लास
कम या विशेष डिस्पर्शन वाले ऑप्टिकल ग्लास (Extra-low Dispersion) का सामान्य नाम। केवल ED लेबल से ऑब्जेक्टिव का प्रदर्शन तय नहीं होता; विशिष्ट ग्लास, साथी ग्लास और पूर्ण डिज़ाइन निर्णायक हैं। यह भी देखें: डिस्पर्शन
साहित्य: [KJ10], [WS08]
Encircled Energy
पॉइंट स्प्रेड फ़ंक्शन की कुल ऊर्जा का वह भाग जो इमेज केंद्र के चारों ओर त्रिज्या r के वृत्त में आता है। यह विवर्तन और एबरेशन दोनों के प्रभाव को जोड़ता है और डिटेक्टर तथा survey अनुप्रयोगों में उपयोगी है।
सूत्र:  EE(r) = [∫0r 2πρ I(ρ) dρ] / [∫0∞ 2πρ I(ρ) dρ]
साहित्य: [S00], [WS08]
प्रवेश पुतली
ऑब्जेक्ट स्पेस से दिखाई देने वाली अपर्चर स्टॉप की इमेज। कई टेलीस्कोप में यह लगभग ऑब्जेक्टिव के क्लियर अपर्चर पर होती है; इसकी स्थिति और आकार किरण-पुंज, विग्नेटिंग और टेलीसेन्ट्रिसिटी को प्रभावित करते हैं।
साहित्य: [H81], [KJ10]
निर्गम पुतली
इमेज-साइड ऑप्टिक्स द्वारा बनी अपर्चर स्टॉप की इमेज। खगोलीय टेलीस्कोप में इसका व्यास लगभग ऑब्जेक्टिव व्यास को आवर्धन से भाग देने के बराबर होता है।
सूत्र:  dA = D / V = fEP / N
साहित्य: [H81], [S00]

F

फर्मा का सिद्धांत
Geometrical optics का fundamental principle जिसके अनुसार दो points के बीच actual light path का optical path length stationary होता है। Reflection और refraction के नियम इससे derive किए जा सकते हैं।
साहित्य: [R90], [G85], [BW99]
फील्ड कोण
Object point या उसके chief ray और optical axis के बीच angle। Wide-field systems के evaluation के लिए यह fundamental specification है और spot diagrams, MTF तथा अन्य image-quality criteria के साथ दिया जाना चाहिए। यह भी देखें: चीफ रे
सूत्र:  θ ≈ arctan(y′ / f)
साहित्य: [H81], [KJ10], [RV88]
फील्ड करेक्टर
फील्ड केंद्र से बाहर इमेज गुणवत्ता सुधारने वाला ऑप्टिकल समूह। यह फील्ड कर्वेचर, एस्टिग्मैटिज़्म और डिज़ाइन के अनुसार अन्य फील्ड एबरेशन कम कर सकता है; इसका काम केवल फील्ड को समतल करना नहीं है।
curved image surface flat sensor plane field corrector
योजनात्मक: फील्ड करेक्टर फील्ड कर्वेचर घटाता है और अन्य ऑफ-अक्ष एबरेशन भी सुधार सकता है।
APQ संदर्भ: APQ इस प्रकार की सुधारक ऑप्टिक्स के लिए “फील्ड करेक्टर” को सामान्य शब्द के रूप में उपयोग करता है।
साहित्य: [KJ10], [WS08]
फील्ड कर्वेचर
ऐसी एबरेशन जिसमें सर्वोत्तम इमेज सतह समतल नहीं बल्कि वक्र होती है। बिना सुधार के समतल सेंसर केंद्र और किनारे पर एक साथ सर्वोत्तम फोकस नहीं पा सकता।
साहित्य: [H86], [KJ10]
फील्ड ऑफ व्यू
ऑब्जेक्ट स्पेस का वह कोणीय क्षेत्र जिसे ऑप्टिकल सिस्टम या सेंसर कवर करता है। छोटे कोणों पर यह लगभग सेंसर आकार के समानुपाती और फोकल लंबाई के व्युत्क्रमानुपाती होता है।
सूत्र:  Ω ≈ 2 arctan [dsens / (2 f)]
साहित्य: [S00], [WS08]
फील्ड स्टॉप
वह stop जो usable object या image field की extent सीमित करता है। Aperture stop के विपरीत यह मुख्यतः field निर्धारित करता है, axial ray bundle की aperture नहीं। यह भी देखें: अपर्चर स्टॉप
aperture stop field stop marginal rays chief ray
योजनात्मक: field stop और aperture stop optical system में अलग functions करते हैं।
साहित्य: [H81], [KJ10]
फिज़ो इंटरफेरोमीटर
Interferometric test arrangement जिसमें reference और test waves closely spaced optical surfaces या reference optic द्वारा generate की जाती हैं। Fizeau interferometers precision optics में widely used हैं क्योंकि वे surface और wavefront deviations को high accuracy से measure करते हैं।
सूत्र:  Δφ = 2π · OPD / λ
साहित्य: [M07], [Sch17]
फ्लोराइट (CaF₂)
क्रिस्टलीय कैल्शियम फ्लोराइड जिसमें बहुत कम डिस्पर्शन, उल्लेखनीय anomalous partial dispersion और व्यापक स्पेक्ट्रल रेंज में उच्च ट्रांसमिशन होता है। ऑप्टिकल CaF₂ एक क्रिस्टल है, ग्लास नहीं।
APQ संदर्भ: CaF₂ चुनिंदा APQ Fluorite Polychromat में एक प्रमुख पदार्थ है।
साहित्य: [H81], [KJ10]
फ्लोरोफॉस्फेट ग्लास
फ्लोराइड और फॉस्फेट घटकों वाले विशेष ऑप्टिकल ग्लास, जिनमें बहुत कम डिस्पर्शन और anomalous partial dispersion हो सकती है। उचित संयोजन में ये बहुत उन्नत वर्णीय सुधार संभव बनाते हैं।
साहित्य: [H81], [KJ10]
बैक फोकल दूरी / फोकस दूरी
किसी focus या ray intersection से specified reference surface तक axial distance। यह focal length के समान नहीं है क्योंकि यह principal planes की position और selected mechanical reference पर depend करती है। यह भी देखें: फोकल लंबाई
साहित्य: [H81], [KJ10]
फोकल लंबाई
ऑप्टिकल सिस्टम का पैराएक्सियल गुण जो इमेज स्केल और फील्ड ऑफ व्यू सहित कई विशेषताएँ तय करता है। अनंत दूरी के ऑब्जेक्ट के लिए यह इमेज-साइड प्रिंसिपल प्लेन से पैराएक्सियल फोकस तक की दूरी है।
साहित्य: [H81], [KJ10]
फोकल रेशियो
फोकल लंबाई f और प्रभावी क्लियर अपर्चर D का अनुपात। छोटी संख्या अधिक “फास्ट” सिस्टम बताती है, जिसमें किरण कोण बड़ा और एबरेशन सुधार की माँग अधिक होती है।
सूत्र:  N = f / D
साहित्य: [H81], [S00]
फोकल रिड्यूसर-करेक्टर
ऐसा ऑप्टिकल समूह जो प्रभावी फोकल लंबाई और इसलिए फोकल रेशियो घटाता है तथा निर्धारित एबरेशन भी सुधारता है। केवल focal reduction पर्याप्त नहीं; फील्ड आकार, स्पेक्ट्रल रेंज और सेंसर स्थिति डिज़ाइन का हिस्सा होने चाहिए।
सूत्र:  k = fnew / fsys;   Nnew = k Nsys
APQ संदर्भ: APQ केवल “reducer” की जगह कार्य स्पष्ट करने वाला “फोकल रिड्यूसर-करेक्टर” शब्द उपयोग करता है।
साहित्य: [KJ10], [WS08]
फोकस शिफ्ट
तरंगदैर्घ्य, तापमान, फ़िल्टर, यांत्रिक सहनशीलता या अन्य प्रभावों से सर्वोत्तम फोकस स्थिति का बदलना। chromatic focus shift longitudinal color का माप है, जबकि thermal focus shift तापमान-जनित बदलाव बताता है।
साहित्य: [H86], [WS08]
फूको knife-edge test
Classical test जिसमें focus के पास knife edge returning beam के कुछ हिस्से को block करती है। Brightness distributions या zonal measurements से rotationally symmetric optical surfaces के form errors का अनुमान लगाया जा सकता है।
साहित्य: [R90], [M07]
फूरिए रूपांतरण
Spatial और spatial-frequency domains के बीच mathematical transformation। Linear imaging theory में यह PSF और OTF जैसी quantities को आपस में जोड़ता है। यह भी देखें: पॉइंट स्प्रेड फ़ंक्शन (PSF), ऑप्टिकल ट्रांसफर फ़ंक्शन (OTF)
सूत्र:  F(ν) = ∫ f(x) · e−i2πνx dx
साहित्य: [L17], [BW99]
फ्राउनहोफर रेखाएँ
Solar spectrum की प्रमुख absorption lines का historical नाम। C, d, F, F′ और C′ जैसी lines परंपरागत रूप से Abbe numbers, refractive indices और chromatic correction के reference wavelengths के रूप में प्रयुक्त होती हैं। यह भी देखें: एबे संख्या
साहित्य: [R90], [H81]
फ्रेनल और फ्राउनहोफर विवर्तन
Diffraction के दो approximation regimes। Fresnel diffraction finite propagation distances और curved wavefronts को describe करता है; Fraunhofer diffraction far-field case या focal plane में उसकी realization को।
साहित्य: [G85], [BW99]
फ्रेनल समीकरण
Interface पर reflected और transmitted light की amplitude तथा power के संबंध। Coefficients refractive indices, incidence angle और polarization पर depend करते हैं और uncoated interfaces तथा optical coatings के evaluation का आधार हैं।
सूत्र:  R(0°) = |(n₁ − n₂)/(n₁ + n₂)|²
साहित्य: [G85], [BW99]
फ्यूज़्ड सिलिका
High-purity amorphous silicon dioxide जिसमें अच्छी UV transmission, उच्च thermal stability और relatively low thermal expansion होती है। Crystalline quartz के विपरीत fused silica isotropic है और optical glass के रूप में वर्गीकृत किया जाता है।
साहित्य: [R90], [H81]

G

ज्यामितीय प्रकाशिकी
Light propagation का rays द्वारा वर्णन। यह तब उपयुक्त है जब diffraction और interference जैसे wavelength effects समस्या के लिए negligible हों, और paraxial imaging, ray tracing तथा classical aberration theory का आधार है।
साहित्य: [G85], [H81]
ग्राइंडिंग, लैपिंग और पॉलिशिंग
Precision optics की fundamental processing stages। Grinding geometry बनाती और material हटाती है; lapping या fine grinding form error और subsurface damage कम करती है; polishing बहुत कम roughness वाली optically active surface बनाती है। MRF जैसी modern processes इस chain को deterministically supplement करती हैं। यह भी देखें: मैग्नेटोरियोलॉजिकल फिनिशिंग (MRF)
साहित्य: [Sch17], [M07]

H

हार्टमैन टेस्ट
Wavefront test जिसमें multiple openings वाला mask aperture को sub-bundles में divide करता है। एक या अधिक planes में resulting spots की measured positions local ray slopes और इस प्रकार wavefront information देती हैं। यह भी देखें: वेवफ्रंट त्रुटि, Shack-Hartmann वेवफ्रंट सेंसर (Hartmann-Shack)
सूत्र:  ∂W/∂x ≈ Δx / L
Hartmann maskspot positions
योजनात्मक: Hartmann mask aperture को sub-bundles में विभाजित करती है; spot positions में local wavefront slopes की information होती है।
साहित्य: [M07], [PS01]
हर्ज़बर्गर dispersion formula
Broad spectral range में refractive index की wavelength dependence को represent करने वाली empirical dispersion formula। Broadband chromatic design और superachromatic systems के analysis में विशेष रूप से useful है।
साहित्य: [HR84], [HM63]
ह्यूजेंस का सिद्धांत
Wave-optical principle जिसके अनुसार wavefront का हर point secondary wavelets का source माना जा सकता है और नया wavefront इन wavelets का envelope होता है। यह propagation और diffraction को intuitive रूप से समझने का आधार देता है।
साहित्य: [R90], [G85], [BW99]

I

प्रकाशन / सापेक्ष प्रकाशन
Image plane में field-dependent illuminance या relative signal level। यह natural angular dependencies, pupil imaging और vignetting से प्रभावित होता है और इसे image quality से अलग evaluate करना चाहिए। यह भी देखें: विग्नेटिंग
सूत्र:  Erel(θ) = E(θ) / E(0)
साहित्य: [H81], [KJ10], [RV88]
चित्र कंट्रास्ट / कंट्रास्ट ट्रांसफर
Image contrast bright और dark image structures के brightness difference को दर्शाता है। Linear imaging system का frequency-dependent contrast transfer modulation transfer function (MTF) से वर्णित होता है। यह भी देखें: मॉड्यूलेशन ट्रांसफर फ़ंक्शन (MTF)
सूत्र:  C = (Imax − Imin) / (Imax + Imin)
साहित्य: [BW99], [H86], [WS08]
इमेज फील्ड
इमेज प्लेन का वह क्षेत्र जिसमें ऑप्टिकल सिस्टम उपयोगी इमेज गुणवत्ता देता है। इसे रैखिक आकार, इमेज सर्कल या ऑब्जेक्ट स्पेस के कोणीय क्षेत्र के रूप में बताया जा सकता है।
साहित्य: [H81], [KJ10]
व्यतिकरण
Coherent optical waves का superposition, जिससे उनके phase difference के अनुसार spatial या temporal intensity modulation उत्पन्न होती है। Interference अनेक optical metrology methods और filters का operating principle है।
सूत्र:  I = I₁ + I₂ + 2√(I₁I₂) cos Δφ
साहित्य: [G85], [BW99]
इंटरफेरेंस फ़िल्टर
Thin-film optical filter जिसकी spectral transmission एक या अधिक dielectric layers में constructive और destructive interference से बनती है। Center wavelength और passband सामान्यतः incidence angle और refractive index पर depend करते हैं।
APQ संदर्भ: Fast beams और बड़े image fields में interference filters की angular dependence को optics के साथ evaluate करना चाहिए।
साहित्य: [H81], [WS08]
इंटरफेरोग्राम
Recorded interference pattern जिसमें test और reference wavefronts के बीच optical path difference की information होती है। Quantitative evaluation से surface form, wavefront error या derived aberration coefficients प्राप्त किए जा सकते हैं। यह भी देखें: वेवफ्रंट
सूत्र:  Δφ = 2π · OPD / λ
साहित्य: [M07], [Sch17]
इंटरफेरोमेट्री
मापन विधि जिसमें जाँचे जाने वाले वेवफ्रंट को एक रेफरेंस वेवफ्रंट के साथ अध्यारोपित किया जाता है। इंटरफेरेंस पैटर्न से आकार, सतह और वेवफ्रंट विचलन अत्यंत सटीकता से निकाले जा सकते हैं।
साहित्य: [M07], [H86]
आइसोप्लैनैटिज़्म / isoplanatic field
वह condition जिसमें limited field पर point-spread function या wavefront distortion को practically invariant माना जा सके। Atmospheric imaging में isoplanatic angle वह angular region बताता है जिसमें लगभग वही turbulence correction valid रहती है।
साहित्य: [L17], [H81]

K

किनेमैटिक माउंटिंग
Mounting principle जो rigid body के six degrees of freedom को defined और minimally overconstrained तरीके से constrain करता है। Proper kinematic mounting stress कम करती है और adjustment, assembly तथा temperature changes के दौरान positioning repeatable बनाती है।
APQ संदर्भ: Kinematic principles adjustable और temperature-sensitive APQ assemblies के लिए विशेष रूप से relevant हैं।
साहित्य: [Y08]

L

पार्श्व वर्णीय विपथन
Transverse chromatic aberration जिसमें off-axis object point का magnification या image height wavelength-dependent होता है। इससे image field में color-dependent lateral shifts उत्पन्न होते हैं।
साहित्य: [L17], [H81]
पार्श्व आवर्धन
Paraxial imaging में image size और object size का अनुपात। प्रयुक्त sign convention के अनुसार इसका चिन्ह image orientation को दर्शाता है।
सूत्र:  β = y′/y = −b/g
साहित्य: [G85], [H81]
अनुदैर्ध्य वर्णीय विपथन
Chromatic aberration जिसमें अलग wavelengths की axial focal positions अलग होती हैं। इसका behavior, उदाहरण के लिए, chromatic focus shift द्वारा वर्णित किया जा सकता है। यह भी देखें: क्रोमैटिक फोकस शिफ्ट
साहित्य: [L17], [H81]
लो-स्ट्रेस ऑप्टिकल माउंट
ऐसा mounting concept जो optical components को सुरक्षित रखता है लेकिन assembly forces, temperature changes या unequal expansion coefficients से unacceptable stress और resulting form या refractive-index changes पैदा नहीं होने देता। Contact geometry, clamping force और material pairing optical-system design का हिस्सा हैं।
APQ संदर्भ: बड़े high-precision APQ objectives के लिए low-stress mounting और thermal compensation दोनों निर्णायक हैं।
साहित्य: [Y08]

M

मैग्नेटोरियोलॉजिकल फिनिशिंग (MRF)
डिटरमिनिस्टिक फाइन-पॉलिशिंग प्रक्रिया जिसमें चुंबकीय रूप से नियंत्रित पॉलिशिंग सस्पेंशन स्थानीय रूप से परिभाषित material-removal tool बनाता है। MRF उच्च-गुणवत्ता ऑप्टिकल सतहों की शेष figure error को लक्षित रूप से सुधार सकता है।
APQ संदर्भ: जब पारंपरिक full-aperture polishing अपनी सीमा पर पहुँचता है, MRF उच्च-सटीकता surface correction में विशेष रूप से उपयोगी है।
साहित्य: [M07]
आवर्धन
दृश्य खगोलीय अवलोकन में टेलीस्कोप की फोकल लंबाई और eyepiece focal length का अनुपात। उपयोगी आवर्धन aperture, सीइंग, contrast और object पर भी निर्भर है।
सूत्र:  V = ftel / fEP
साहित्य: [S00]
मार्जिनल रे
Object point से निकलने वाली वह ray जो effective aperture stop के edge को छूती है। Marginal rays ray bundle की सीमा तय करती हैं और chief ray के साथ aperture, field और vignetting के important construction rays हैं। यह भी देखें: अपर्चर स्टॉप, चीफ रे
aperture stop field stop marginal rays chief ray
योजनात्मक: marginal rays bundle को सीमित करती हैं; chief ray aperture stop के center से गुजरती है।
साहित्य: [H81], [KJ10]
सामग्री असमानता
Optical component के भीतर material properties, विशेषकर refractive index n, का spatial variation। Surface form geometrically correct होने पर भी refractive-index inhomogeneity wavefront errors उत्पन्न कर सकती है। यह भी देखें: अपवर्तनांक
सूत्र:  Δn = n(x,y,z) − nref
साहित्य: [Sch17], [Y08]
मापन अनिश्चितता
Relevant uncertainty contributions को ध्यान में रखने के बाद measurement result से reasonably associated value range को वर्णित करने वाली quantity। Wavefront, centering या surface form के high-precision values तभी पूरी तरह comparable होते हैं जब test conditions और uncertainty भी stated हों।
सूत्र:  uc = √∑(ci ui)2
साहित्य: [Sch17], [M07]
मेल्ट डेटा
किसी specific glass melt के measured optical properties, विशेषकर defined wavelengths पर refractive indices और उनसे derived dispersion data। ये nominal catalog values से थोड़ा अलग हो सकते हैं और highly corrected designs में melt fit का आधार बनते हैं। यह भी देखें: मेल्ट-फिट
साहित्य: [KJ10], [WS08]
मेल्ट-फिट
Available glass batches के actually measured melt data के अनुसार optical design की adjustment या re-optimization। इससे highly corrected systems में real refractive indices और dispersions के catalog values से छोटे deviations शामिल किए जा सकते हैं। यह भी देखें: मेल्ट डेटा
APQ संदर्भ: Broadband-corrected high-performance objectives में Melt Fit calculated chromatic correction को actual production में बनाए रखने में महत्वपूर्ण योगदान दे सकता है।
साहित्य: [KJ10], [WS08]
मेरिट फ़ंक्शन
Scalar function जो selected image-quality targets, design constraints और weights को optimization के लिए एक numerical quantity में combine करता है। Selected system parameters को applicable bounds और constraints के भीतर बदलकर optimum खोजा जाता है।
सूत्र:  MF = ∑ wi [qi − qi,target]2
साहित्य: [H86], [KJ10], [WS08]
मॉड्यूलेशन ट्रांसफर फ़ंक्शन (MTF)
ऑप्टिकल ट्रांसफर फ़ंक्शन का परिमाण। यह बताता है कि किसी spatial frequency पर sinusoidal object pattern का कितना कॉन्ट्रास्ट इमेज में बना रहता है। MTF तभी स्पष्ट है जब तरंगदैर्घ्य या स्पेक्ट्रल वेटिंग, फील्ड पॉइंट, फोकस और रेफरेंस स्केल भी दिए जाएँ।
सूत्र:  MTF(ν) = |OTF(ν)|
1.00 spatial frequency ν MTF higher contrast transfer more aberrated
योजनात्मक: MTF spatial frequency के साथ ट्रांसफर हुए कॉन्ट्रास्ट को दर्शाता है।
साहित्य: [H86], [S00], [WS08]
मोनोक्रोमैट
ऐसा optical system जिसकी correction या evaluation single wavelength या बहुत narrow spectral band पर आधारित हो। यह शब्द spectral correction condition बताता है, lens-element count नहीं।
साहित्य: [HR84]
मल्टीपलेट
कई lens elements या lens groups वाला multi-element optical system। Doublet, Triplet या Quadruplet की तरह यह structural complexity बताता है और chromatic correction class से अलग है।
साहित्य: [HR84]

N

न्यूमेरिकल अपर्चर
किरण-पुंज के opening angle का dimensionless माप। वायु में छोटे कोणों के लिए यह इमेजिंग सिस्टम के फोकल रेशियो से लगभग संबंधित होता है।
सूत्र:  NA = n sin u;   air में छोटे angles के लिए: NA ≈ 1/(2N)
साहित्य: [BW99], [H81]
नाइक्विस्ट आवृत्ति
Discrete sampling system की sampling frequency का आधा। Suitable prefiltering के बिना Nyquist frequency से ऊपर की spatial frequencies lower frequencies के रूप में दिखाई दे सकती हैं (aliasing); इसलिए यह optical MTF और detector pixel pitch को जोड़ती है।
सूत्र:  νN = 1 / (2p)
pixel pitch p पर sampling points νN = 1/(2p)
योजनात्मक: pixel pitch p spatial sampling की Nyquist सीमा निर्धारित करता है।
साहित्य: [WS08], [S00]

O

ऑयल कपलिंग
पास-पास की लेंस सतहों को पतली ऑप्टिकल द्रव परत से जोड़ना। इससे आंतरिक इंटरफेस प्रतिबिंब बहुत घट सकते हैं और डिज़ाइन स्वतंत्रताएँ मिलती हैं; material compatibility, long-term stability और thermomechanical behavior डिज़ाइन का हिस्सा हैं।
APQ संदर्भ: ऑयल कपलिंग कई उच्च-प्रदर्शन APQ ऑब्जेक्टिव की निर्माण विशेषता है।
साहित्य: [H81], [KJ10]
ऑप्टिकल ग्लास
Optical components के निर्माण के लिए controlled optical और thermal properties वाला amorphous homogeneous material। Important properties में refractive index, dispersion, transmission, homogeneity और thermal behavior शामिल हैं। Crystalline CaF₂ optical glass नहीं है। यह भी देखें: अपवर्तनांक, डिस्पर्शन
साहित्य: [H81], [KJ10], [Sch17]
ऑप्टिकल टॉलरेंसिंग
Design parameters की permissible deviations निर्धारित करना और system performance पर उनके प्रभाव का analysis। Typical variables में radii, thicknesses, spacings, refractive indices, decenter, tilt और assembly errors शामिल हैं। Tolerancing nominal design को realistically manufacturable system से जोड़ता है।
साहित्य: [KJ10], [WS08], [Y08]
ऑप्टिकल ट्रांसफर फ़ंक्शन (OTF)
ऐसा complex function जो linear, shift-invariant इमेजिंग सिस्टम की amplitude और phase transfer को spatial frequency के साथ वर्णित करता है। इसका magnitude मॉड्यूलेशन ट्रांसफर फ़ंक्शन (MTF) है और phase भाग Phase Transfer Function (PTF) कहलाता है।
सूत्र:  OTF(ν) = FT{PSF} / FT{PSF}|ν=0
साहित्य: [BW99], [S00]

P

पैरैक्सियल क्षेत्र / Gaussian optics
Geometrical optics का approximation regime जहाँ ray heights और optical axis के प्रति angles छोटे होते हैं। यहाँ sin u ≈ tan u ≈ u माना जा सकता है; focal lengths, principal positions और paraxial focal distances first order में describe होते हैं।
सूत्र:  sin u ≈ tan u ≈ u
साहित्य: [H81], [KJ10]
आंशिक प्रसरण
दो selected spectral lines के बीच material के refractive-index difference का measure। Relative partial dispersions इस difference को reference dispersion से normalize करती हैं और absolute dispersion से स्वतंत्र glass comparison संभव बनाती हैं।
सूत्र:  Px,y = (nx − ny) / (nF − nC)
साहित्य: [H81], [KJ10]
पेट्ज़वाल योग
सिस्टम की optical powers और refractive indices से निर्धारित field curvature का paraxial माप। सकारात्मक और नकारात्मक powers का उचित वितरण Petzval curvature कम या compensate कर सकता है।
साहित्य: [H86], [KJ10]
फेज ट्रांसफर फ़ंक्शन (PTF)
Complex optical transfer function (OTF) का phase। MTF contrast transfer का magnitude बताती है, जबकि PTF imaging system द्वारा introduced spatial-frequency-dependent phase shifts दर्शाती है। यह भी देखें: ऑप्टिकल ट्रांसफर फ़ंक्शन (OTF)
सूत्र:  OTF(ν) = MTF(ν) · ei·PTF(ν)
साहित्य: [HR84], [BW99]
पिक्सेल स्केल
Sky का angular extent जो detector के एक pixel पर image होता है। Pixel size और effective focal length से यह निर्धारित होता है और seeing, optical resolution तथा sampling को match करने के लिए महत्वपूर्ण है। यह भी देखें: फोकल लंबाई, सैम्पलिंग
सूत्र:  s [arcsec/Pixel] ≈ 206265 · p / f
साहित्य: [S00], [RV88]
प्लेन-पैरेलल प्लेट
दो ideally parallel plane surfaces वाला optical element। Normal incidence पर thickness t और refractive index n वाली plate axial focus shift उत्पन्न करती है; oblique incidence पर lateral beam displacement और additional aberration contributions भी आते हैं।
सूत्र:  Δs ≈ t · (1 − 1/n) (paraxial, air में)
साहित्य: [HR84], [H81]
पॉइंट स्प्रेड फ़ंक्शन (PSF)
आदर्श बिंदु स्रोत की इमेज की द्वि-आयामी intensity distribution। PSF में विवर्तन, एबरेशन और अन्य सिस्टम प्रभाव शामिल होते हैं; इसका Fourier transform ऑप्टिकल ट्रांसफर फ़ंक्शन (OTF) से संबंधित है।
साहित्य: [BW99], [S00]
ध्रुवण
Light wave के electric-field vector की time-dependent orientation का वर्णन। Linear, circular और elliptical polarization common states हैं; reflection, birefringence और optical materials में stress polarization state बदल सकते हैं।
साहित्य: [R90], [G85], [BW99]
Polychromat
कई रंगों या विस्तृत स्पेक्ट्रल रेंज में उन्नत वर्णीय सुधार वाला ऑप्टिकल सिस्टम। Haferkorn की शब्दावली में Polychromasie सरल chromatic correction conditions से आगे की डिज़ाइन अवधारणा है। वास्तविक गुणवत्ता को निर्दिष्ट स्पेक्ट्रल रेंज और उपयुक्त इमेज-गुणवत्ता मानकों से आँकना चाहिए।
APQ संदर्भ: APQ ब्रॉडबैंड-सुधारित ऑब्जेक्टिव के लिए “Polychromat” शब्द उपयोग करता है; इसे तत्वों की संख्या से न जोड़ा जाए।
साहित्य: [H81], [H86]
प्रधान तल और प्रधान बिंदु
Centered optical system के first-order optics के reference planes और points। इनके माध्यम से compound system को equivalent first-order quantities से represent किया जा सकता है और effective focal lengths तथा conjugate distances जैसी quantities के reference positions define होते हैं।
साहित्य: [G85], [H81]

Q

Quadruplet
खगोल विज्ञान में चार ऑप्टिकल तत्वों वाले ऑब्जेक्टिव या लेंस समूह के लिए सामान्य शब्द। “Quadruplet” तत्वों की संख्या बताता है, वर्णीय सुधार श्रेणी नहीं।
APQ संदर्भ: APQ Fluorite Quadruplet Polychromat चार तत्वों को ब्रॉडबैंड वर्णीय और ज्यामितीय सुधार के साथ जोड़ता है।
साहित्य: [KJ10]
क्वांटम दक्षता
आने वाले फोटॉनों का तरंगदैर्घ्य-निर्भर भाग जो दर्ज photoelectrons या charge carriers उत्पन्न करता है। सिस्टम प्रदर्शन में इसे ट्रांसमिशन, pixel size, read noise और dark current के साथ देखना चाहिए।
सूत्र:  η(λ) = Ne− / Nph
100 %0 wavelength λQE = η schematic curve – specific sensor नहीं
योजनात्मक: डिटेक्टर की क्वांटम दक्षता तरंगदैर्घ्य पर निर्भर होती है।
साहित्य: [S00]

R

रेले quarter-wave criterion
Historical approximation जिसके अनुसार लगभग λ/4 का maximum optical path difference अक्सर approximately diffraction-limited imaging की सीमा माना जाता है। इसे resolution के Rayleigh criterion से नहीं मिलाना चाहिए।
सूत्र:  PV(OPD) ≲ λ / 4
साहित्य: [R90], [S00]
परावर्तनशीलता / Reflectance
Surface या system पर reflected optical radiant power और incident power का ratio। यह wavelength, incidence angle, polarization, refractive indices और coatings पर depend करता है।
सूत्र:  R(λ) = Pref(λ) / Pin(λ)
साहित्य: [R90], [H81], [BW99]
अपवर्तनांक
निर्वात में प्रकाश की गति और किसी पदार्थ में उसकी फेज़ वेलोसिटी का अनुपात। अपवर्तनांक तरंगदैर्घ्य और तापमान पर निर्भर है; इसका स्पेक्ट्रल परिवर्तन डिस्पर्शन का आधार है।
सूत्र:  n(λ) = c / vph(λ)
साहित्य: [H81], [BW99]
अवशिष्ट स्पेक्ट्रम
Chromatic correction के बाद बची wavelength-dependent focal या imaging error। इसका shape और magnitude तय करता है कि achromat, apochromat, superachromat या polychromat intended spectral range में कितनी अच्छी तरह corrected है।
साहित्य: [HR84], [H81]
विभेदन क्षमता
पास-पास स्थित ऑब्जेक्ट संरचनाओं को अलग-अलग इमेज करने की क्षमता। आदर्श वृत्ताकार अपर्चर के लिए Rayleigh criterion समान चमक वाले दो बिंदु स्रोतों का कोणीय पृथक्करण बताता है। वास्तविक खगोल विज्ञान में सीइंग, कॉन्ट्रास्ट, डिटेक्टर सैंपलिंग और सिग्नल-टू-नॉइज़ अनुपात केवल विवर्तन से अधिक सीमित कर सकते हैं।
सूत्र:  θR = 1.22 λ / D
θR Rayleigh criterion पर दो point images
योजनात्मक: Rayleigh criterion के अनुसार दो विवर्तन बिंदु-चित्रों का पृथक्करण।
साहित्य: [BW99], [S00]
RMS वेवफ्रंट त्रुटि
टिल्ट और डिफोकस जैसे निर्धारित पद हटाने के बाद वास्तविक वेवफ्रंट और रेफरेंस वेवफ्रंट के अंतर का root-mean-square मान। RMS और Peak-to-Valley (PV) सीधे परस्पर बदले नहीं जा सकते।
सूत्र:  σW = √[(1/A) ∫A (W − W̄)2 dA]
साहित्य: [H86], [M07]

S

सैजिटल और टैन्जेन्शियल तल
Off-axis ray bundles के लिए दो mutually perpendicular reference planes। Tangential या meridional plane में optical axis और chief ray होते हैं; sagittal plane इसके perpendicular होता है। दोनों planes में अलग focal positions astigmatism को दर्शाते हैं। यह भी देखें: चीफ रे, एस्टिग्मैटिज़्म
tangential/meridional plane sagittal plane
योजनात्मक: off-axis ray bundle के sagittal और tangential/meridional planes।
साहित्य: [H81], [H86], [RV88]
सैम्पलिंग
Pixels द्वारा continuous image distribution का discrete acquisition। Digital imaging में sampling को highest relevant spatial frequency के अनुरूप होना चाहिए; बहुत coarse sampling aliasing उत्पन्न करती है और fine structures को गलत रूप में दिखा सकती है। यह भी देखें: स्पैटियल फ़्रीक्वेंसी
सूत्र:  νN = 1 / (2p)
pixel pitch p पर sampling points νN = 1/(2p)
योजनात्मक: spatial frequency को discrete pixel positions पर sample किया जाता है।
साहित्य: [WS08], [S00]
सेकेंडरी स्पेक्ट्रम
अक्रोमैटिक रूप से सुधारे गए सिस्टम में reference wavelengths के बीच या बाहर बचा longitudinal chromatic error। anomalous partial dispersion और अतिरिक्त design freedom इसे काफी घटा सकते हैं।
साहित्य: [H81], [H86]
सीइंग
वायुमंडलीय turbulence से उत्पन्न समय-परिवर्ती इमेज धुंधलापन और गति। भू-आधारित खगोल विज्ञान में seeing अक्सर टेलीस्कोप की विवर्तन सीमा से अधिक व्यावहारिक विभेदन क्षमता को सीमित करता है।
साहित्य: [S00]
सीडल एबरेशन्स
Classical third-order monochromatic aberrations: spherical aberration, coma, astigmatism, field curvature और distortion। Seidel theory इनके origin तथा field और aperture पर dependence की qualitative और quantitative understanding देती है।
साहित्य: [H81], [H86], [KJ10]
Shack-Hartmann वेवफ्रंट सेंसर (Hartmann-Shack)
Microlens array से entrance aperture को कई subapertures में विभाजित करने वाला wavefront sensor। हर focused spot का reference position से displacement local wavefront slope देता है, जिससे wavefront reconstruct की जाती है। यह भी देखें: वेवफ्रंट पुनर्निर्माण
सूत्र:  ∂W/∂x ≈ Δx / fML,   ∂W/∂y ≈ Δy / fML
APQ संदर्भ: “Shack-Hartmann” और “Hartmann-Shack” दोनों नाम उपयोग होते हैं; international technical literature में “Shack-Hartmann” अधिक सामान्य है।
wavefrontmicrolens arrayspot displacements
योजनात्मक: microlenses spots बनाती हैं; reference positions से displacement local wavefront slopes देती है।
साहित्य: [PS01], [M07]
सिग्नल-टू-नॉइज़ अनुपात
उपयोगी सिग्नल और सभी संबंधित noise components की सांख्यिकीय फैलाव का अनुपात। डिटेक्टर में signal/background photon noise, dark current और read noise आदि योगदान करते हैं।
सूत्र:  SNR ≈ S / √(S + B + D + R2)
साहित्य: [S00]
स्नेल का नियम / अपवर्तन नियम
दो isotropic media की interface पर incidence और refraction angles के बीच संबंध।
सूत्र:  n₁ sin θ₁ = n₂ sin θ₂
साहित्य: [G85], [H81]
स्पैटियल फ़्रीक्वेंसी
Image plane में प्रति unit length, या प्रति angular/object-space interval periodic brightness या structure changes की संख्या। Spatial frequency MTF की independent variable है और resolution, contrast तथा detector sampling को जोड़ती है। यह भी देखें: मॉड्यूलेशन ट्रांसफर फ़ंक्शन (MTF)
सूत्र:  ν = 1 / P
साहित्य: [H86], [BW99], [WS08]
स्पेक्ट्रल रिस्पॉन्सिविटी
Incident radiation के प्रति detector या complete system की wavelength-dependent response। Definition के अनुसार इसमें detector quantum efficiency, gain, optical transmission और filter response शामिल हो सकते हैं; इसे quantum efficiency मात्र के बराबर नहीं मानना चाहिए। यह भी देखें: क्वांटम दक्षता
साहित्य: [S00], [WS08]
स्पेक्ट्रोग्राफ / स्पेक्ट्रोस्कोपी
Spectrograph radiation को spectrally disperse करके spectrum को detector पर image करता है। Spectroscopy spectral intensity distributions और lines का analysis है; resolution, throughput और spectral response optics, slit या fiber, dispersive element और detector से निर्धारित होते हैं।
साहित्य: [R90], [S00]
स्फेरिकल एबरेशन
स्फेरिकल एबरेशन: समान अक्षीय ऑब्जेक्ट पॉइंट से आने वाली marginal और paraxial किरणें अलग अक्षीय स्थानों पर मिलती हैं। त्रुटि अपर्चर और ऑप्टिकल सतहों के आकार पर निर्भर है। यह भी देखें: एबरेशन
साहित्य: [H81], [H86]
स्फेरोक्रोमैटिज़्म (गाउस त्रुटि)
स्फेरिकल एबरेशन की वर्णीय निर्भरता, जिसे अंतरराष्ट्रीय रूप से spherochromatism कहा जाता है। कोई ऑब्जेक्टिव एक संदर्भ तरंगदैर्घ्य पर spherical aberration के लिए बहुत अच्छी तरह सुधरा हो सकता है, पर अन्य तरंगदैर्घ्यों पर अलग spherical aberration दिखा सकता है। यह भी देखें: एबरेशन
साहित्य: [H81], [H86]
स्पॉट डायग्राम
चुनी हुई किरणों के इमेज प्लेन पर intersection points का ज्यामितीय चित्रण। स्पॉट डायग्राम निर्धारित फील्ड और तरंगदैर्घ्यों के लिए geometric aberrations का आकार और फैलाव दिखाते हैं, पर अकेले पूर्ण diffraction information नहीं देते।
reference circle / scale
योजनात्मक: संदर्भ वृत्त के सापेक्ष ज्यामितीय ray intersections; यह APQ मापन डेटा नहीं है।
APQ संदर्भ: स्पॉट डायग्राम की तुलना तभी सार्थक है जब scale, wavelengths, field angles, weighting और focus conditions तुलनीय हों।
साहित्य: [H86], [KJ10]
स्टार टेस्ट
Star source के intra-focal, extra-focal और focused diffraction images से telescope की testing। Star test aberrations और alignment errors के प्रति बहुत sensitive है, लेकिन quantitative interpretation के लिए seeing, wavelength, obstruction और defocus की controlled conditions आवश्यक हैं।
APQ संदर्भ: Finite distance और source size को पर्याप्त रूप से ध्यान में रखा जाए तो artificial star testing को सरल बना सकता है।
intra-focalextra-focal
योजनात्मक: star test में intra-focal और extra-focal diffraction patterns की तुलना।
साहित्य: [Su08], [M07]
स्ट्रे लाइट
Image plane में वह unwanted radiation जो observed object से आने वाले ideal geometrical path का अनुसरण नहीं करती। Sources में surface roughness, particles, ghost reflections, mounts और inadequate baffling शामिल हैं। Stray light विशेषकर faint structures का contrast कम करती है। यह भी देखें: चित्र कंट्रास्ट / कंट्रास्ट ट्रांसफर
साहित्य: [WS08], [Y08]
स्ट्रेहल अनुपात
समान कुल ऊर्जा और अपर्चर पर वास्तविक पॉइंट स्प्रेड फ़ंक्शन (PSF) की peak intensity और आदर्श diffraction-limited PSF की peak intensity का अनुपात। Strehl तरंगदैर्घ्य, फील्ड और फोकस पर निर्भर है; polychromatic Strehl के लिए परिभाषित spectral weighting भी चाहिए।
सूत्र:  S = Imax,real / Imax,ideal;   small errors के लिए: S ≈ exp[−(2πσW/λ)2]
साहित्य: [H86], [S00], [BW99]
स्ट्रेस बाइरिफ्रिन्जेन्स
Originally isotropic transparent materials में mechanical stress से induced birefringence। Principal stresses का difference photoelastic effect से refractive-index difference पैदा करता है और polarization तथा wavefront को प्रभावित कर सकता है।
सूत्र:  Δn = C · (σ1 − σ2)
साहित्य: [H81], [Sch17], [Y08]
Superachromat
Herzberger और McClure के अनुसार चार रंगों के लिए सुधारा गया उन्नत achromatic system। यह वर्णीय सुधार श्रेणी बताता है, पर अपने आप field performance, स्फेरिकल एबरेशन या UV से NIR तक बहुत व्यापक कार्य-क्षेत्र की गारंटी नहीं देता।
साहित्य: [HM63], [H81]
सतह रूप त्रुटि
Defined alignment और permitted degrees of freedom हटाने के बाद real optical surface का specified nominal form से deviation। इसे surface roughness और cosmetic defects से अलग समझना चाहिए। यह भी देखें: सतह खुरदरापन
साहित्य: [Sch17], [M07]
सतह गुणवत्ता / Scratch-Dig
Scratches, pits या edge chips जैसे local defects के संदर्भ में optical surface quality का general term। Scratch-Dig एक widely used, मुख्यतः cosmetic classification है और इसे form error या surface roughness से नहीं मिलाना चाहिए। यह भी देखें: सतह खुरदरापन
साहित्य: [Sch17], [M07]
सतह खुरदरापन
Ideal form से surface deviation का short-spatial-wavelength component। यह विशेष रूप से stray light और losses को प्रभावित करता है और defined spatial bandwidth पर suitable statistical parameters से specified किया जाता है।
सूत्र:  Rq = √[(1/L) ∫ z(x)2 dx]
साहित्य: [Sch17], [M07]
ऑप्टिकल सिस्टम सिंथेसिस
Specified functions, constraints और performance targets से optical design का systematic generation। इसमें preliminary calculation या starting system, structure और material selection, correction, numerical optimization, evaluation और subsequent tolerancing शामिल हैं।
APQ संदर्भ: Broadband polychromats का development ऐसा synthesis problem है जिसमें chromatic, monochromatic और field-dependent correction targets को साथ-साथ पूरा करना पड़ता है।
साहित्य: [HR84], [H81]
सिस्टम थ्रूपुट
All optical losses के बाद detector तक पहुँचने वाली incident radiant power या photons का fraction। Spectral system throughput transmissions, reflectances, filters और जहाँ लागू हो geometrical losses को combine करता है।
सूत्र:  τsys(λ) = ∏ Ti(λ) · ∏ Rj(λ)
साहित्य: [WS08], [S00]

T

टेलीसेन्ट्रिसिटी
ऐसा गुण जिसमें object या image space में chief rays optical axis के समानांतर होते हैं। image-side telecentricity sensors और filters पर incidence angle को स्थिर करती है, लेकिन हर astronomical application में आवश्यक नहीं।
साहित्य: [KJ10], [WS08]
पतली लेंस समीकरण
Thin lens या equivalent system के लिए focal length f, object distance g और image distance b का paraxial relation। Signs प्रयुक्त convention पर depend करते हैं।
सूत्र:  1/f = 1/g + 1/b
साहित्य: [G85], [H81]
Through-Focus RMS
कई फोकस स्थितियों पर RMS-आधारित image-quality criterion का मूल्यांकन। विश्लेषण के अनुसार RMS spot radius या RMS वेवफ्रंट त्रुटि हो सकता है, इसलिए उपयोग की गई quantity स्पष्ट करनी चाहिए।
साहित्य: [H86], [WS08]
पूर्ण आंतरिक परावर्तन
Optically denser medium से less dense medium की interface पर, जब incidence angle critical angle से बड़ा हो, होने वाला complete reflection।
सूत्र:  sin θc = n₂ / n₁ (n₁ > n₂)
साहित्य: [G85], [BW99]
ट्रांसमिशन
ऑप्टिकल तत्व या सिस्टम से गुजरने वाली radiometric power और incident power का अनुपात। spectral transmission T(λ) में material absorption, reflection losses और जहाँ लागू हो filter action शामिल हैं।
सूत्र:  T(λ) = Pout(λ) / Pin(λ)
साहित्य: [H81], [BW99]
ट्रांसवर्स एबरेशन
Defined image plane में real ray intersection का ideal paraxial या geometrical image point से lateral displacement। Transverse aberrations सामान्यतः ray-fan या spot diagrams में evaluate किए जाते हैं।
साहित्य: [L17], [H86]
Trichromat (तीन-रंग सुधार)
ऐसी वर्णीय सुधार श्रेणी जिसमें चुने गए तीन रंग या तरंगदैर्घ्य समान paraxial focus condition पूरी करते हैं। इसे Doublet, Triplet या Quadruplet जैसी तत्व-संख्या संरचना से अलग समझें।
साहित्य: [H81], [H86]
Triplet
खगोल विज्ञान और Haferkorn दोनों में तीन ऑप्टिकल तत्वों वाले ऑब्जेक्टिव या लेंस समूह के लिए प्रयुक्त शब्द। “Triplet” तत्वों की संख्या बताता है; यह स्वतः अपोक्रोमैट या Trichromat (तीन-रंग सुधार) नहीं होता।
साहित्य: [H67], [KJ10]

U

UBVRI स्पेक्ट्रल रेंज
U (ultraviolet), B (blue), V (visual), R (red) और I (near-infrared) बैंड से बना photometric system। आधुनिक उपयोग में Johnson U/B/V और Cousins R/I का संयोजन आम है। Effective wavelengths स्थिर सार्वभौमिक मान नहीं हैं; वे passbands, detector और source spectrum पर निर्भर करते हैं।
350450550650750850 UBVRI Johnson-Cousins bands की schematic positions wavelength λ / nm
योजनात्मक: UBVRI बैंड की स्थिति; वास्तविक curves और effective wavelengths detector तथा source पर निर्भर हैं।
साहित्य: [B90], [S00]
बिना विग्नेटिंग का इमेज सर्कल
इमेज प्लेन का वृत्ताकार क्षेत्र जहाँ cells, stops या बाद के घटकों से कोई geometric obstruction नहीं होता। unvignetted image circle अपने आप uniform illumination या constant image quality की गारंटी नहीं देता।
साहित्य: [KJ10], [WS08]

V

विग्नेटिंग
geometric obstruction या imaging system की natural angular dependence से उत्पन्न field-dependent light reduction। mechanical vignetting और natural illumination falloff में अंतर करना चाहिए।
साहित्य: [KJ10], [WS08]

W

तरंग प्रकाशिकी
Light की wave nature से optical phenomena का वर्णन। इसमें interference, diffraction, coherence और polarization शामिल हैं और जहाँ pure ray model पर्याप्त नहीं होता वहाँ geometrical optics को supplement करती है।
साहित्य: [G85], [BW99]
वेवफ्रंट
ऑप्टिकल तरंग का समान phase वाला पृष्ठ। आदर्श point focus के लिए converging wavefront गोलाकार होता है; ideal reference wavefront से deviation system aberrations को दर्शाता है।
साहित्य: [BW99], [H86]
वेवफ्रंट त्रुटि
वास्तविक और आदर्श reference wavefront के बीच अंतर। इसे spatial function, RMS या Peak-to-Valley के रूप में व्यक्त किया जा सकता है। विश्वसनीय विनिर्देश में wavelength, aperture, measurement/calculation conditions और हटाए गए terms बताए जाते हैं।
सूत्र:  PV = Wmax − Wmin
साहित्य: [H86], [M07]
वेवफ्रंट पुनर्निर्माण
Measured local slopes, phase data या intensity data से spatial wavefront की mathematical determination। उदाहरण के लिए Shack-Hartmann sensor में spot displacements से प्राप्त gradients को integrate किया जाता है या Zernike polynomials जैसी basis पर fit किया जाता है। यह भी देखें: वेवफ्रंट, Shack-Hartmann वेवफ्रंट सेंसर (Hartmann-Shack), ज़र्निक बहुपद
साहित्य: [PS01], [M07]
वेवफ्रंट-शियरिंग इंटरफेरोमेट्री
Interferometric method जिसमें wavefront को उसकी spatially shifted या tilted copy के साथ superimpose किया जाता है। Resulting fringes मुख्यतः local wavefront gradients की information रखती हैं।
साहित्य: [R90], [M07]
वाइड-फील्ड सिस्टम
तुलनात्मक रूप से बड़े field angle या image circle में उच्च इमेज गुणवत्ता देने के लिए डिज़ाइन किया गया ऑप्टिकल सिस्टम। फील्ड बढ़ने पर कोमा, एस्टिग्मैटिज़्म, फील्ड कर्वेचर, डिस्टॉर्शन, lateral color और विग्नेटिंग अधिक महत्वपूर्ण होते हैं।
APQ संदर्भ: APQ Wide-Field Polychromat में विस्तृत फील्ड और विस्तृत स्पेक्ट्रल रेंज को एक संयुक्त सिस्टम आवश्यकता माना जाता है।
साहित्य: [S00], [KJ10]

Z

ज़र्निक बहुपद
Unit disk पर orthogonal polynomial functions जो circular pupil पर wavefront errors का वर्णन करने के लिए उपयोग होते हैं। Individual modes defocus, astigmatism या coma जैसी known aberration forms से जोड़े जा सकते हैं; numbering और normalization convention बतानी चाहिए। यह भी देखें: वेवफ्रंट त्रुटि
सूत्र:  W(ρ,φ) = ∑ aj Zj(ρ,φ)
defocusastigmatismcoma (schematic)
योजनात्मक: typical Zernike error forms के examples; यह quantitative wavefront map नहीं है।
साहित्य: [H86], [M07], [PS01]
ज़ोनल त्रुटि
Rotationally symmetric surface या wavefront error जो aperture की specific radial zones तक सीमित हो। Zonal errors spherical aberration के local contributions के रूप में आ सकती हैं और radial resolution वाले tests से detect की जा सकती हैं। यह भी देखें: स्फेरिकल एबरेशन
साहित्य: [L17], [M07]

साहित्य और आगे पढ़ने के स्रोत

  1. [H81] Haferkorn, Heinz: Optik. Physikalisch-technische Grundlagen und Anwendungen. Harri Deutsch, Thun/Frankfurt am Main, 1981, ISBN 3-87144-570-3.
  2. [H67] Haferkorn, Heinz: Untersuchungen zur Glasauswahl und zur Vorrechnung bei Triplets. Dissertation, Technische Hochschule Ilmenau, 1967.
  3. [H86] Haferkorn, Heinz: Bewertung optischer Systeme. VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, Berlin, 1986.
  4. [HM63] Herzberger, Max; McClure, Nancy R.: "The Design of Superachromatic Lenses". Applied Optics 2 (6), 553–560, 1963. DOI: 10.1364/AO.2.000553.
  5. [KJ10] Kingslake, Rudolf; Johnson, R. Barry: Lens Design Fundamentals. 2. Auflage, Academic Press/Elsevier, 2010.
  6. [S00] Schroeder, Daniel J.: Astronomical Optics. 2. Auflage, Academic Press, 2000, ISBN 0-12-629810-6.
  7. [M07] Malacara, Daniel (Hrsg.): Optical Shop Testing. 3. Auflage, Wiley, 2007, ISBN 978-0-471-48404-2.
  8. [BW99] Born, Max; Wolf, Emil: Principles of Optics. 7., erweiterte Auflage, Cambridge University Press, 1999.
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  11. [Sch17] Schubert, Ingo: Wissensspeicher Feinoptik 17.4. Saale Betreuungswerk der Lebenshilfe Jena gGmbH, Jena, 2017. ISBN 978-3-00-046972-5.
  12. [Su08] Suiter, Harold Richard: Star Testing Astronomical Telescopes – A Manual for Optical Evaluation and Adjustment. 2. Auflage, Willmann-Bell, Richmond, 2008.
  13. [PS01] Platt, Ben C.; Shack, Roland: "History and Principles of Shack-Hartmann Wavefront Sensing". Journal of Refractive Surgery 17 (5), S573–S577, 2001. DOI: 10.3928/1081-597X-20010901-13.
  14. [Y08] Yoder, Paul R., Jr.: Mounting Optics in Optical Instruments. 2. Auflage, SPIE Press, Bellingham, 2008. ISBN 978-0-8194-7129-1.
  15. [RV88] Rutten, Harrie G. J.; van Venrooij, Martin A. M.: Telescope Optics: Evaluation and Design. Willmann-Bell, Richmond, 1988. ISBN 0-943396-18-2.
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  17. [L17] Laux, Uwe: Astrooptik – Optiksysteme für die Astronomie. 3. Auflage, 2017. ISBN 978-3-937981-65-9.
  18. [G85] Grimsehl, Ernst: Lehrbuch der Physik. Band 3: Optik. 18. Auflage, neu bearbeitet von Heinz Haferkorn, B. G. Teubner, Leipzig, 1985.
  19. [HR84] Haferkorn, Heinz; Richter, Wolfgang: Synthese optischer Systeme. VEB Deutscher Verlag der Wissenschaften, Berlin, 1984.

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